X荧光光谱能量ROHS检测仪

更新时间：2010-01-01 00:00:00

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品牌:X荧光光谱能量ROHS检测仪

型号:SFE

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品牌

X荧光光谱能量ROHS检测仪

型号

SFE

产品信息

针对rohs检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素cd、pb、cr、hg、br
也可以测量镀层厚度

rohs指令检测主要技术指标

※. 分析精度：0.05%
※. 样品室尺寸：1000*1000*300mm
※. 测量时间：60-300秒
※. 工作电源：220u±5u
※. 高压：15-50kv
※. 管流：600μa
※. 计数率：1300-8000cps
※. rohs指令有害元素仪检出限cd/pb/cr/hg/br为1ppm
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析

仪器基本配置

※.单样品腔

※.计算机、喷墨打印机

※.硅针半导体探测器
※.硅针半导体探测器
※.放大电路
※.高低压电源
※.x光管

※.无真空腔体

联系方式

地址：中国浙江慈溪市浙江省慈溪市孙塘路455弄33-35号
邮编：315300
电话：86-057423665884
总经理：叶世飞
手机：13586915133

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